赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

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公司簡介：

自 1994 年以來，NanoFocus AG 一直致力于開發、生產和銷售用于工業和實驗室的光學 3D 表面測量技術。工業用 3D 共聚焦顯微鏡，用于分析技術表面，配備µsurf 測量系統。伴隨著不斷的進一步發展，這些和其他 NanoFocus 技術是工業表面測量技術。

NanoFocus三維激光掃描儀主要產品：

NanoFocus三維激光掃描儀

NanoFocus三維激光掃描儀產品型號：

µscan CLM-FC

µsoft Metrology

NanoFocus三維激光掃描儀產品特點：

µscan CLM-FC 系列的測量設備還可用于檢測密封材料和涂層中小的裂縫和缺陷，并檢查氣體擴散層 (GDL) 的孔隙率和缺陷。具有測量范圍的高細節度，共焦多通道傳感器的方法可實現動態掃描長度。

NanoFocus三維激光掃描儀產品應用：

NanoFocus三維激光掃描儀scan CLM-FC（燃料電池），燃料電池的生產相關和非破壞性表面分析，使用快速的全表面 3D 掃描，可以在臨近生產時以高精度檢查工具和雙極板（石墨或金屬）的表面質量。

NanoFocus三維激光掃描儀與傳統測量方法（例如激光掃描顯微鏡）相比的優勢：明顯更大的測量范圍。進給軸的行程動態決定掃描長度。結合行程范圍可達 0.5 m 的可靈活配置的軸系統，該方法還可以測量大型雙極板和重型工具。如果需要，全表面掃描輪廓儀可以與高分辨率 3D 顯微鏡結合使用。這種共焦光學測量系統可以根據標準對 3D 粗糙度進行詳細評估。

NanoFocus三維激光掃描儀直觀的測量和控制軟件 µsoft metrology FC 保證了測量的高效進行。借助 µsoft Metrology，可以從一個用戶界面方便地控制傳感器和全景相機。在傳感器或全景相機之間切換時，測量頭會自動移動到定義的測量位置。幾秒鐘后獲得具有強度疊加的測量結果的有意義的 3D 表示。

NanoFocus三維激光掃描儀表面分析軟件 µsoft analysis FC 提供的功能包，用于顯示和分析結構、粗糙度、波紋度、臺階高度、輪廓和其他表面特征。

NanoFocus三維激光掃描儀在直觀的多語言用戶界面中，按一下按鈕創建復雜的分析報告。NanoFocus三維激光掃描儀剖面圖、3D 重建或反射圖像等多種顯示選項可創建有意義的測量報告。用戶可以輕松創建和實施個人評估方案。該軟件包含過濾功能，并根據 ISO 25178、ISO 4287、ISO 13565 或 EN 15178 提供的標準參數。如果需要，NanoFocus 還可以創建單獨的插件以進一步處理測量數據。

NanoFocus三維激光掃描儀3D光學輪廓儀1個2個3個，MarSurf CP/CL 選擇，2D / 3D 輪廓測量，MarSurf CP 和 MarSurf CL select是光學輪廓儀，可用于測量和分析二維和三維表面——非接觸式、與材料無關且快速。

NanoFocus三維激光掃描儀它們的特點是同時具有高測量精度的大測量區域的極快檢測。 由于采用模塊化設計，測量系統可以適應各種測量任務以及對自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求。根據測量任務的不同，可以靈活選擇不同的傳感器。軸系統和軟件模塊可以單獨組合。

NanoFocus三維激光掃描儀MarSurf CP 和 CL選擇您對自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求 - 直至全自動測量解決方案。